科技1分钟：金属原子迁移（Electromigration）
- 林廷宇
金属原子迁移（Electromigration；EM）是一种电子流引发的金属微观变形现象。在高电流密度环境下，自由电子不断碰撞金属原子，将动量传递给原子，使其沿电子流方向移动，导致金属线路局部变薄形成空洞或堆积成金属突起，最终可能引发电路断路或短路。
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