科技1分钟：半导体失效分析（FA）
- 许经仪
半导体领域中，失效分析（Failure Analysis；FA）是针对半导体元件的一系列的检测流程，目的在于识别缺陷并找出失效的原因，借此提高设计、制作过程与测试准确度。据芬兰Measurlabs说明，大致可分为两类失效，一是参数失效（pa...
会员登入
会员服务申请/试用
申请专线：
+886-02-87125398。
(周一至周五工作日9:00~18:00)
+886-02-87125398。
(周一至周五工作日9:00~18:00)
关键字
