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爱德万携手东京精密 共同开发晶粒级针测机

  • 王嘉瑜台北

半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest)与东京精密(Tokyo Seimitsu)近日共同宣布,双方将合作开发最新晶粒级(die-level)针测机,用于高效运算(HPC)元件的测试需求。 爱德万指出,服务器所使用...

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