Neo最新3D X-DRAM设计 容量为传统DRAM技术10倍
- 涂翠珊/综合外电
美国3D存储器业者Neo Semiconductor(以下简称Neo)发表「1T1C」、「3T0C」两款全新3D X-DRAM设计,概念验证测试芯片预计2026年推出。新款3D X-DRAM单模块容量高达512Gb,为传统DR...
会员登入
会员服务申请/试用
申请专线:
+886-02-87125398。
(周一至周五工作日9:00~18:00)
+886-02-87125398。
(周一至周五工作日9:00~18:00)
关键字