聚焦AI 人工智能 致茂电子SEMICON TAIWAN展现先进测试科技

Chroma 致茂电子参与SEMICON TAIWAN 2023国际半导体展，将展示一系列创新的半导体测试解决方案，专注于AI 人工智能、高效能运算(High Performance Computing, HPC)、汽车半导体与AIoT 等运用，以满足不断演进的半导体测试需求。

先进SoC/Analog测试解决方案

Chroma 3650-S2 SoC/类比测试系统是致茂电子新推出的高效能Power IC测试平台，可满足现今高电压、大电流、与复杂数码控制的Power IC测试需求，提供最高768电源或数码通道，最高3000V或320A的供电能力， 200Mbps数据速率与300ps EPA等，是测试锂电池管理IC、电源管理IC、以及GaN与SiC相关Power IC的理想选择。

Chroma 3680高精度SoC测试系统有效满足人工智能(AI)与车用等尖端科技芯片的测试需求，可提供高达2048个数码通道，数据速率最高可达1Gbps，支持最高16G SCAN矢量存储深度，并提供多种测试模块供使用者选择，可同时完成数码逻辑、参数测试单元、电源、存储器、混合信号等测试。

RF射频芯片测试解决方案

Chroma 3680/3380/3300 ATE测试系统整合射频芯片测试仪 Model 35806，扩充为完整的RF射频芯片测试方案，并已通过客户量产验证。可支持包含Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT, 与GPS/BeiDou等(IoT)通讯标准和Tuner & PA等应用，内含300K~6GHz全频覆盖之超高带宽VSG/VSA模块，更可广泛应用于未来各式无线通讯标准。

SLT三温测试解决方案

Chroma 31000R-L为Tri-Temp三温测试系统，可应用于各种严峻的温度测试，系统提供 -40~+150℃ 稳定的温控能力，DUT解热可高达1,800 Watt，是各种先进与高端IC三温测试系统的理想选择。

Chroma 31000R-L可与3210、3110、3260、3200 等机型搭配，提供从LAB (laboratory) 到FAB (fabrication) 完整的SLT (System Level Test) 三温测试解决方案。Chroma三温测试解决方案可满足各种先进与高端IC的应用领域，像是Automotive、AI & Data Center、GPU、APU、HPC以及Aerospace & Defense等各种应用领域，使用此测试解决方案，可确保IC在严苛环境下运作无虞，是产品可靠测试的最佳选择。

半导体功率元件的绝缘品质守护者

功率元件(IGBT & SiC-MOSFET)被应用于各种领域且经常被使⽤于⾼功率/⼤电流的电源转换/控制线路、隔离元件(光耦合器&数码隔离器)被应用于各种需要隔离电压的环境，这些元件上会出现较高的跨压或压差，因此确保元件在正常的工作条件下维持良好的耐压绝缘及无连续性局部放电导致绝缘劣化至关重要。Chroma 19501系列局部放电测试器符合法规IEC 60270-1对局部放电(Partial Discharge, PD)量测的要求，并将法规之测试方法设计于仪器内，可提供AC耐压测试(Max. 10kVac)及局部放电量测(Max. 6,000pC)，能有效地为功率元件及隔离元件等⻑期⼯作的品质与可靠性做把关。

先进封装量测方案

针对先进封装制程，以自有技术开发非接触式光学检测设备。Chroma 7961 in situ AOI协助客户于制程中检测瑕疵，实时进行生产品质分析与管控；Chroma 7980 3D晶圆量测系统以自有专利技术之BLiS技术，提供纳米级2D/3D关键尺寸量测，且依应用最佳化之软硬件，已可对应先进封装制程中：TSV、RDL的各种2D/3D关键尺寸量测。

半导体材料的纳米粒子监测系统

随着半导体材料的品质要求大幅提高，材料检验及监控成了重要的考验。SuperSizer纳米粒子监测系统成功揪出影响化学溶液良率的杀手-纳米粒子及不纯物质，协助在20纳米以下制程「看」清楚诸多超细微粒。量测过程完全不受纳米气泡的干扰，精准量测小至3纳米的粒子大小及数量分布，掌握良率、控制风险。

SEMICON Taiwan 2023 (9月6-8 日)，致茂电子将于台北南港展览馆一馆1F (摊位号K2776)展出多元的测试解决方案，并于半导体先进检测与计量国际论坛，探讨半导体先进封装中新型态的计量解决方案，我们诚挚的邀请您一同体验量测新趋势，期待在此年度盛会中与您见面。